動態光散射理論：粒子的擴散效應：懸浮的粒子并不是靜止不動的，相反，他們以布朗運動（Brownianmotion)的方式無規則的運動，布朗運動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此，到達PMT檢測區的每一束散射光隨時間也呈無規則波動，這是由于產生散射光的粒子的位置不同而導致的無規則波動。因為這些光互相干涉在一起，在檢測器中檢測到的光強值就會隨時間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產生很大的變化，進而產生有實際意義的波動，于是這些波動在凈光強值上反應出來。 DLS測量粒徑技術的關鍵物理概念是基于粒子的波動時間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個概念，我們現在假定粒子是均一大小的，具有相同的擴散系數（diffusion coefficient)。分散體系中的小粒子運動的快，將會導致光強波動信號變化很快；而相反地，大粒子擴散地畢竟慢，導致了光強值的變化比較慢。對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優勢。廣東怎樣zeta電位及納米粒度儀售后服務

產品優勢：四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測器（選配）Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發生器和雪崩二極管檢測器（相比較傳統的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。APD通常被用于散射發生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度，如蛋白質、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發生器模塊，在非常短的時間內就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。五、380/MA多角度檢測器（選配）粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調節檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調節角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。如何zeta電位及納米粒度儀哪個好五、380/MA多角度檢測器（選配） 粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。

技術優勢1、PMT高靈敏度檢測器；2、可搭配不同功率光源；3、雙列直插式電極和樣品池，可反復使用成千上萬次；4、鈀電極；5、精確度高，接近樣品真實值；6、復合型算法：高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換；相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換；7、快速檢測，可以追溯歷史數據；8、結果數據以多種形式和格式呈現；9、符合USP,CP等個多藥典要求；10、無需校準；11、模塊化設計便于維護和升級；（1）可自動稀釋模塊（選配）；（2）搭配多角度檢測器（選配）；（3）自動進樣系統（選配）；

Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：動態光散射儀（Dynamic Light Scattering,DLS）/ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS）；檢測范圍：粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍0.3nm–10μm，ZETA電位檢測范圍為+/-500mV。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（Gaussian）單峰算法的Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶節省檢測成本。其開創的Nicomp多峰分布理論，提高了動態光散射理論的分辨率和靈敏性。

產品優勢：一、模塊化設計：Nicomp380納米激光粒度儀是全球率先在應用動態光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的先進粒度儀。隨著模塊的升級和增加，Nicomp380的功能體系越來越強大，可以用于各種復雜體系的檢測分析。二、自動稀釋模塊（選配）：自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差，且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度，這縮短了測試者寶貴時間，且無需培訓，測試結果重現性好，誤差率＜1%。三、380/HPLD大功率激光器：美國PSS粒度儀公司在開發儀器的過程中，考慮到在各種極端實驗測試條件中不同的需求，對不同使用條件和環境配置了不同功率的激光發生器。大功率的激光器可以對極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號，使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測試大粒子的時候同樣也很有幫助，比如在檢測右旋糖酐大分子時，折射率的特性會引起光散射強度不足。因為大功率激光器的特性，會彌補散射光強的不足和衰減，測試極其微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質以及其他大分子不再是一個苛刻的難題。即使沒有色譜分離，Nicomp380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。Nicomp創始人Dave Nicole很早就認識到傳統的動態光散射理論只給出高斯模式的粒度分布。廣東如何zeta電位及納米粒度儀價格

隨著模塊的升級和增加，Nicomp 380的功能體系越來越強大，可以用于各種復雜體系的檢測分析。廣東怎樣zeta電位及納米粒度儀售后服務

Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：動態光散射儀（Dynamic Light Scattering,DLS）/ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS）；檢測范圍：粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍0.3nm–10μm，ZETA電位檢測范圍為+/-500mV。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（Gaussian）單峰算法的Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶節省檢測成本。廣東怎樣zeta電位及納米粒度儀售后服務

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